Etude des protections contre les decharges electrostatiques sur les technologies mos

par FRANCOIS TAILLIET

Thèse de doctorat en Sciences appliquées

Sous la direction de Jean-Pierre Chante.

Soutenue en 1991

à Villeurbanne, INSA .

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  • Résumé

    La protection des circuits integres contre les decharges electrostatiques est assuree par des composants speciaux incorpores. Sont decrites les diverses sources d'esd et les procedures de test destinees a les reproduire. Un catalogue des protections typiques de 1985 montre la faiblesse de l'etat de l'art, comme le confirment les methodes d'analyse de defauts. La conception de structures esd etait alors empirique et aboutissait a des resultats irreguliers. On presente ici une approche plus scientifique. Est etudie le comportement transitoire de la jonction p-n et du bipolaire lateral n-p-n. Un programme de simulation a ete developpe specialement pour modeliser la mise en conduction de la diode. Les resultats, en bon accord avec l'experience, sont extrapoles au n-p-n. La theorie a permis de developper de nouvelles structures de protection et d'ameliorer les existantes. Ceci s'applique aux entrees, aux sorties et aux alimentations. Ces composants, adaptes aux specifications des circuits, n'ont maintenant rien a envier a leurs homologues discrets


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  • Annexes : 32 REF

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  • Bibliothèque : Institut national des sciences appliquées (Villeurbanne, Rhône). Service Commun de la Documentation Doc'INSA.
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