Étude par microscopie électronique des fautes d'empilement et des macles dans le phosphure d'indium déformé

par Mohamed Shaker Azzaz

Thèse de doctorat en Physique

Sous la direction de Jean-Pierre Michel.

Soutenue en 1991

à Vandoeuvre-les-Nancy, INPL .

mots clés

• Phosphure d'indium
• Composés trois-cinq
• Déformation plastique
• Maclage
• Microscopie électronique
• Microscopie électronique en transmission
• Phosphure d'indium
• Déformations (mécanique)

Résumé

Des monocristaux d'InP non dopé et dopé soufre (InP. S) ont été déformés en compression uni axiale, à vitesse imposée, à des températures variant de 0,35 Tf à 0,58 Tf et observée ensuite en microscopie électronique par transmission. Le résultat le plus original est l'observation de fautes d'empilement extrinsèques, fréquentes et étendues, et apparemment simples, pour les deux types de matériau. Dans InP. S uniquement, la déformation a crée des macles de différentes tailles dont l'épaisseur peut atteindre environ 5 microns. Ces macles apparaissent pour des faibles déformations, dès la limite d'élasticité. Ils leurs sont associés des accidents sur les courbes contrainte-déformation. Nous n'avons pas trouvé l'explication satisfaisante pour tous les cas de figures observés. Néanmoins les configurations des micro macles suggèrent l'existence d'un mécanisme de pôles suivant la description de PIROUZ plutôt que celle de VENABLES. En effet nous n'avons pas observé de partielles de Frank et les macles sont situées dans le plan de glissement sollicité

Titre traduit

TEM study of stacking faults and twins in plastically deformed indium phosphide

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