Caractérisation électrique des structures bipolaires VLSI : évaluation de paramètres critiques

par Jean-Marie Pham

Thèse de doctorat en Électronique

Sous la direction de J. P. Dom.

Soutenue en 1991

à Bordeaux 1 .

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  • Résumé

    Dans le contexte des circuits vlsi se sont developpees de nouvelles structures bipolaires avancees miniaturisees. La premiere partie du memoire presente les originalites de ces structures et donne une vue d'ensemble de leurs technologies. La seconde partie s'interesse a leur modelisation. Elle expose une methode originale d'extraction de parametres dynamiques critiques a partir de mesures electriques simples effectuees sur des circuits de test de mise en uvre aisee

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  • Détails : 148 f

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  • Bibliothèque : Université de Bordeaux. Direction de la Documentation. Bibliothèque Sciences et Techniques.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : FT 91.B-667
  • Bibliothèque : Université de Bordeaux. Direction de la Documentation. Bibliothèque Sciences et Techniques.
  • Accessible pour le PEB
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