Testabilite de systemes a base de circuits vlsi

par JEAN-LUC PELLEGRINELLI

Thèse de doctorat en Sciences appliquées

Sous la direction de Jean Auvray.

Soutenue en 1990

à Paris 6 .

    mots clés mots clés


  • Résumé

    Un probleme difficile a resoudre est celui de savoir quelle quantite de test sera necessaire pour un produit et quel degre de confiance nous pouvons lui accorder pour considerer que le resultat de la conception sera un modele testable. Il existe plusieurs methodes d'integration de la testabilite et la premiere partie du document dresse un panorama de ces techniques en presentant leurs avantages et inconvenients respectifs; ces methodes sont d'abord appliquees aux circuits vlsi puis aux cartes et systemes a base de circuits vlsi. La seconde partie du document comporte trois exemples d'application qui ont permis de valider les principes developpes au cours de la premiere partie: 1) le premier exemple est un circuit de faible complexite dans lequel sont integrees des methodes de testabilite ad hoc, 2) le deuxieme exemple est un microcontroleur 16 bits qui comporte une structure de diagnostic integre, 3) le troisieme exemple est un systeme a base de circuits vlsi qui integre une structure de bus de testabilite et une strategie de test hierarchique


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Informations

  • Annexes : 30 REF

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  • Bibliothèque : Université Pierre et Marie Curie. Bibliothèque Universitaire Pierre et Marie Curie. Section Biologie-Chimie-Physique Recherche.
  • Accessible pour le PEB
  • Bibliothèque : Université Pierre et Marie Curie. Bibliothèque Universitaire Pierre et Marie Curie. Section Biologie-Chimie-Physique Recherche.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : T Paris 6 1990 266
  • Bibliothèque : Centre Technique du Livre de l'Enseignement supérieur (Marne-la-Vallée, Seine-et-Marne).
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : PMC RT P6 1990
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