Contribution au test déterministe des circuits cmos : équivalences de pannes

par Marie-Lise Flottes

Thèse de doctorat en Composants, signaux et systèmes

Sous la direction de Christian Landrault.

Soutenue en 1990

à Montpellier 2 .


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  • Résumé

    Cette these traite des relations de test dans les circuits cmos. Ce type de relation permet de reduire par equivalence ou dominance des ensembles de pannes. Une etude bibliographique presente l'utilisation de ces relations sur des ensembles de pannes de collage affectant des circuits modelises au niveau porte. L'inefficacite de ces modeles classiques pour representer correctement certaines particularites de la technologie cmos (portes de transmission, effets sequentiels ou analogiques de certains types de pannes) et l'inflation du nombre de modeles et de sites de fautes qui en decoule nous ont amene a reconsiderer le probleme pour des circuits representes au niveau interrupteur. Apres une presentation des differents modeles que nous avons choisi d'utiliser, nous proposons une base theorique permettant d'analyser les relations de test liant des pannes de collage, stuck-off, stuck-on, coupure et court-circuit. Plusieurs relations sont alors demontrees. Cette etude est conclue par la definition d'un ensemble de points de controle dans les reseaux de transistors puis dans les circuits ou plusieurs niveaux de modelisation peuvent etre utilises simultanement. Enfin, une application est proposee sous la forme d'un generateur de listes de pannes minimisees. La presentation de ce logiciel dans le contexte d'un systeme complet de generation d'ensemble de test permet d'en illustrer l'utilisation

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Informations

  • Détails : 201 f
  • Annexes : Bibliogr.: f. 171-175

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  • Cote : TS 90.MON-060
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