Test et diagnostic de circuits intégrés programmables : [thèse soutenue sur un ensemble de travaux]

par Raoul Velazco

Thèse de doctorat en Sciences

Sous la direction de J. P. VERJUS.

Soutenue en 1990

à Grenoble INPG .


  • Résumé

    Les circuits intégrés programmables, tels que microprocesseurs, microcontrôleurs et coprocesseurs, sont parmi les composants les plus complexes et se trouvent au coeur de la plupart d'applications de l'électronique digitale. Quelle que soit la nature de l'application (commerciale, industrielle, scientifique, militaire) à laquelle est destiné un composant, des contraintes de sûreté de fonctionnement et/ou économiques en exigent une très grande qualité. Des tests minutieux doivent donc être réalisés, pour garantir l'absence d'anomalies qui pourraient être introduites aux différentes étapes de la vie d'un tel composant (conception, production, utilisation). Parmi ces tests, les tests dits logiques (vérification de la fonction logique réalisée par le circuit) posent des problèmes critiques. L'objet du travail présenté ici a été d'apporter une solution globale au problème de test logique de circuits intégrés programmables sous la forme d'une méthode et d'un ensemble d'outils spécifiques : le générateur de programmes de test GAPT, les testeurs fonctionnels FUTE 8, TEMAC et FUTE 16. L'expérimentation sur divers circuits que ce soit en collaboration avec des concepteurs (validation de conception), des fabricants (aide à la localisation de défauts) ou des utilisateurs (test, diagnostic, qualification de circuits pour des environnements sévères) a permis de valider l'approche et les outils

  • Titre traduit

    Test and diagnosis of programmable integrated circuits


  • Pas de résumé disponible.

Consulter en bibliothèque

La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

  • Détails : 1 vol. (250 p.)

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque :
  • Accessible pour le PEB
  • Bibliothèque :
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 90/INPG/0143
  • Bibliothèque :
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : IMAG-1990-VEL
  • Bibliothèque :
  • Consultable sur place dans l'établissement demandeur
  • Cote : 1990 VEL
  • Bibliothèque :
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : G2A 279/1990/VEL.TES
Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.