Contribution à l'étude du rayonnement en champ électromagnétique proche des circuits en électronique de puissance

par Bei Lu

Thèse de doctorat en Sciences. Electrotechnique

Sous la direction de Gérard Rojat.

Soutenue en 1990

à l'Ecully, Ecole centrale de Lyon , en partenariat avec Laboratoire d'électrotechnique (Ecully, Rhône) (laboratoire) .

mots clés

• Champs électromagnétiques
• Électronique de puissance
• Convertisseurs électriques

Résumé

La c. E. M. , appliquée a l'électronique industrielle, consiste a étudier les perturbations conduites et rayonnées, créées par les montages d'électronique de puissance. Notre travail est consacre a l'étude du rayonnement en champ electromagnetique de ces montages. Le premier chapitre porte sur l'analyse du champ électrique et du champ magnétique génères par une alimentation statique sans coupure de 60 kva, utilisant des interrupteurs a semi-conducteurs a commutations rapides. Cette étude expérimentale permet d'avoir un aperçu très général du mécanisme et des sources du rayonnement dans les différents types de convertisseurs statiques. Le deuxième chapitre décrit les outils expérimental et théorique développes. Un montage expérimental et un capteur de champ électrique ont été mis au point. L'étude théorique permet d'établir des solutions analytiques pour évaluer l'intensité et la forme des champs électrique et magnétique crées par deux sources de géométrie simple. Les troisième et quatrième chapitres sont consacres respectivement à l'étude du champ magnétique et du champ électrique produits par différents circuits d'électronique de puissance dans une région voisine de ceux-ci. Cette étude se concrétise par la localisation, la modélisation des sources émettrices et la quantification des champs électrique et magnétique engendres

Titre traduit

Contribution to the study of near-field electromagnetic radiation of electronics power circuits

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