Evaluation de la qualité et de la fiabilité de condensateurs utilisés dans les circuits microélectroniques

par Nanhan Xiong

Thèse de doctorat en Électronique

Sous la direction de YVES DANTO.

Soutenue en 1990

à Bordeaux 1 .

    mots clés mots clés


  • Pas de résumé disponible.


  • Pas de résumé disponible.


  • Résumé

    Dans ce travail, sont proposees diverses methodes d'analyse permettant la caracterisation electrique. L'evaluation des parametres technologiques et le diagnostic de defaillances de condensateurs. Dans le cas de condensateurs a oxyde de tantale, les elements d'un schema equivalent, representatif de la technologie, sont determines par analyse frequentielle dans trois differents domaines de frequence. Dans le cas de condensateurs ceramiques, une methode basee sur la relaxation piezoelectrique est developpee. Ces methodes, utilisees avant et apres des series de test de vieillissement accelere, ont permis de degager les parametres de construction et d'utilisation influencant la fiabilite de ces composants

Consulter en bibliothèque

La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

  • Détails : 218 p

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Université de Bordeaux. Direction de la Documentation. Bibliothèque Sciences et Techniques.
  • Accessible pour le PEB
  • Bibliothèque : Université de Bordeaux. Direction de la Documentation. Bibliothèque Sciences et Techniques.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : FT 90.B-525
  • Bibliothèque : Université de Bordeaux. Direction de la Documentation. Bibliothèque Sciences et Techniques.
  • Non disponible pour le PEB
  • Cote : FTR 90.B-525
Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.