Caractérisation des transistors à effet de champ : mesure précise de la matrice de répartition et détermination directe du schéma équivalent

par Gilles Dambrine

Thèse de doctorat en Électronique

Sous la direction de Alain Cappy.

Soutenue en 1989

à Lille 1 .


  • Résumé

    Ce mémoire présente une étude théorique et expérimentale des méthodes et moyens de caractérisation hyperfréquence des composants à effet de champ. La première partie présente une étude des techniques d'étalonnage adaptées au TEC ; la seconde, une méthode d'extraction directe du schéma équivalent petit signal. En dernière partie, une cellule de test 40 GHz adaptée aux mesures des TEC est conçue, réalisée et testée. On décrit aussi la mise en œuvre d'un système de mesures hyperfréquence sous pointes.

  • Titre traduit

    Micro wave characterization of fxield effect transistors: accurate measurement of scattering parameters, and direct determination of small signal equivalent circuit


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Informations

  • Détails : 1 vol. (278 p.)
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p. 278

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