Contribution au test des circuits intégrés CMOS : étude du test des pannes stuck-on et stuck-open

par François Darlay

Thèse de doctorat en Micro-électronique

Sous la direction de Bernard Courtois.

Soutenue en 1989

à Grenoble INPG .


  • Résumé

    Cette thèse traite de la détection des pannes du niveau transistors, pour la technologie CMOS : les pannes de type stuck-on et stuck-open sont considérées.


  • Pas de résumé disponible.


  • Résumé

    Ces pannes confèrent aux circuits CMOS des comportements spécifiques : une panne stuck-on (transistor colle ferme) transforme un circuit logique en circuit analogique, tandis qu'une panne stuck-open (transistor colle ouvert) transforme un circuit séquentiel. Le test de différents types de réseaux logiques est abordé. Nous distinguons les réseaux sans sortance multiple (FOF: Fan-Out Free), à sortance multiple non-reconvergente (NRFO : non-reconvergent Fan-Out), et à sortance multiple reconvergente (RFO: reconvergent Fan-Out).

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  • Cote : TS 89/INPG/0128
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  • Cote : IMAG-1989-DAR
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