Contribution au test des circuits intégrés CMOS : étude du test des pannes stuck-on et stuck-open

par François Darlay

Thèse de doctorat en Micro-électronique

Sous la direction de Bernard Courtois.

Soutenue en 1989

à Grenoble INPG .


  • Résumé

    Cette thèse traite de la détection des pannes du niveau transistors, pour la technologie CMOS : les pannes de type stuck-on et stuck-open sont considérées.

  • Titre traduit

    Contribution on the test of cmos integrated circuits : testing stuck-on and stuck-open faults


  • Résumé

    Ces pannes confèrent aux circuits CMOS des comportements spécifiques : une panne stuck-on (transistor colle ferme) transforme un circuit logique en circuit analogique, tandis qu'une panne stuck-open (transistor colle ouvert) transforme un circuit séquentiel. Le test de différents types de réseaux logiques est abordé. Nous distinguons les réseaux sans sortance multiple (FOF: Fan-Out Free), à sortance multiple non-reconvergente (NRFO : non-reconvergent Fan-Out), et à sortance multiple reconvergente (RFO: reconvergent Fan-Out).


  • Résumé

    L'étude des stuck-open dans les réseaux FOF et NRFO est conclue par la définition de séquences de vecteurs permettant de détecter toutes les pannes stuck-open simples et multiples. Les réseaux RFO posent le problème de l'invalidation des séquences par des phénomènes temporels. Ce problème est traité en détail, et un critère est obtenu, permettant d'identifier les portes non entièrement testables. Une solution du type DFT (Design For Testability: conception pour la testabilité) est proposée.

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Informations

  • Détails : 1 vol. (160 f)

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Service interétablissements de Documentation (Saint-Martin d'Hères, Isère). Bibliothèque universitaire Joseph-Fourier.
  • Accessible pour le PEB
  • Bibliothèque : Service interétablissements de Documentation (Saint-Martin d'Hères, Isère). Bibliothèque universitaire Joseph-Fourier.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TS 89/INPG/0128
  • Bibliothèque : Moyens Informatiques et Multimédia. Information.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : IMAG-1989-DAR
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