Modélisation des lignes intégrées micro-ondes prenant en compte l'épaisseur et la conductivité finie des métallisations

par Nahla Daoud

Thèse de doctorat en Optique, optoélectronique, micro-ondes

Sous la direction de S. TEDJINI.

Soutenue en 1989

à Grenoble, INPG .

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  • Résumé

    Cette etude est consacree a la modelisation des lignes de transmission planaires pour circuits integres microondes. Les pertes metalliques modifient notablement les caracteristiques microondes des structures monolithiques surtout dans la region d'onde lente des structures mis et une prise en compte de ces pertes est necessaire. Les methodes d'analyse de calcul actuellement existantes tiennent compte uniquement de l'epaiseur non nulle des metallisations, leur conductivite etant consideree infinie. Nous proposons une modification originale de la methode spectrale classique qui tient compte a la fois de l'epaisseur non nulle des metallisations et de leur conductivite. Les resultats obtenus sont compares avec d'autres methodes d'analyse aussi bien statique que dynamique ainsi qu'avec des resultats experimentaux publies par d'autres auteurs. Pour une validation experimentale de nos resultats nous avons caracterise des lignes gaas a contact schottky. Les resultats experimentaux obtenus presentent un bon accord avec les valeurs theoriques obtenues par le modele propose

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  • Détails : 1 vol. (180 p.)

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  • Bibliothèque : Service interétablissements de Documentation (Saint-Martin d'Hères, Isère). Bibliothèque universitaire de Sciences.
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  • Cote : TS 89/INPG/0112
  • Bibliothèque : Phelma. Bibliothèque.
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