Etude de bicristaux de silicium par spectroscopie capacitive, influence des traitementsthermiques et des impuretes

par Jean-François Hamet

Thèse de doctorat en Physique

Sous la direction de Jean-Louis Chermant.

Soutenue en 1989

à Caen .

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  • Résumé

    Etude des proprietes electriques des joints de grain par dlts, tscap et egalement par des mesures de recombinaison ebic. L'activite electrique des joints est liee a la presence de precipites a caractere metallique le long des joints


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  • Détails : 77 P.
  • Annexes : 84 REF

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