Contribution à l'étude des siliciures de métaux réfractaires en couches minces : excitations électroniques, dans la gamme d'énergie infra-rouge par spectroscopie d'électrons (H.R.E.E.L.S.)

par François Pierre

Thèse de doctorat en Sciences des matériaux

Sous la direction de Jean-Marc Layet.

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  • Résumé

    Preparation de couches minces de wsi#2 et mosi#2 sous ultravide et caracterisation par spectrometrie de pertes d'energie d'electrons lents a haute resolution, spectrometrie auger, diffraction d'electrons lents, microscopie electronique en transmission et reflexion diffraction de rayons x, en fonction du recouvrement du support de si. Analyse des resultats hreels par la theorie dielectrique et l'analyse de kramers-kronig: l'effet du support ne se manifeste que pour les couches les plus minces, qui sont epitaxiques et stchiometriques


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  • Annexes : Bibliogr.: f. en fin de châpitre

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  • Bibliothèque : Université Aix-Marseille (Marseille. Luminy). Service commun de la documentation. Bibliothèque de sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : 16121
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