Système d'évaluation par analyse d'images du désordre des défauts dans les semiconducteurs III-V

par Massoud Asgarinia

Thèse de doctorat en Composants, signaux et systèmes. Informatique industrielle

Sous la direction de Jean-Pierre Fillard.

Soutenue en 1988

à Montpellier 2 .


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  • Résumé

    Mise en place sur un systeme de traitement numerique d'images pdp11/23-intellect 100, d'un ensemble de logiciel destine a la mise en forme, la transformation et l'analyse d'images de tomograpshie 3d obtenues par balayage laser dans les materiaux iii-v. Ce systeme a permis l'evaluation du taux de desordre des defauts par deux methodes independantes: la transformation de fourier et l'analyse morphologique. Des elements statistiques de tests de qualite sont obtenus

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  • Détails : vi f., 160 p
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  • Cote : TS 88.MON-50
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