Thèse de doctorat en Physique
Sous la direction de Jean-Claude Pfister.
Soutenue en 1988
à Grenoble 1 .
Le travail porte principalement sur l'etude des proprietes de transport electronique dans les films metalliques ultraminces de cosi::(2) (10 a 20 angstroems) epitaxies sur du silicium. Les principaux points abordes concernent: le transport perpendiculaire, le transport parallele aux interfaces, les proprietes electroniques des siliciures
Electronic transport properties in metal semiconductor heterostructures
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