Réflectivité et diffraction des rayons X appliquées aux films minces organiques

par François Rieutord

Thèse de doctorat en Physique

Sous la direction de Marianne Lambert.

Soutenue en 1987

à Paris 11 , en partenariat avec Université de Paris-Sud. Faculté des Sciences d'Orsay (Essonne) (autre partenaire) .


  • Résumé

    Différentes études par rayon X de films de molécules amphiphiles (monocouche et multicouches de Langmuir-Blodgett) sont ici présentées. On décrit d'abord une méthode d'analyse structurale utilisant trois techniques conjuguées de rayons X: diffraction en transmission et en réflexion, et étude de la réflexion critique. On montre ensuite que l'examen complet d'une courbe de réflectivité aux rayons X permet d'obtenir des informations détaillées non seulement sur la structure mais aussi sur les interfaces de ces films multicouches. Ces données sont complétées par des observations directes des défauts de la surface au moyen de la microscopie électronique sur des répliques. Enfin on étudie la réflectivité d'une monocouche directement à la surface de l'eau, ce qui fournit d'une part son profil suivant la normale et d'autre part la rugosité de l'interface due aux ondes capillaires excitées thermiquement.

  • Titre traduit

    X-ray reflectivity and diffraction applied to thin organic films


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Informations

  • Détails : 1 vol. (134 p.)
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. en fin de chapitres

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Université Paris-Sud (Orsay, Essonne). Service Commun de la Documentation. Section Sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : 0g ORSAY(1987)384
  • Bibliothèque : Centre Technique du Livre de l'Enseignement supérieur (Marne-la-Vallée, Seine-et-Marne).
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : TH2014-034719
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