Controle de la croissance d'empilements ultra-minces carbone tungstene et silicium-tungstene par ellipsometrie cinetique in-situ : application aux miroirs pour x-mous

par Vincent Bodart

Thèse de doctorat en Physique

Sous la direction de ) THEETEN.

Soutenue en 1987

à Paris 7 .


  • Résumé

    Dans le but d'obtenir des reflecteurs de bragg pour rx mous, on realise par pulverisation avec controle ellipsometrique in situ des empilements de 200 couches nanometriques. Observation de la formation des interfaces a l'echelle atomique, evaluation des rugosites d'interface

  • Titre traduit

    Fabrication using in situ kinetic ellipsometry of carbon-tungsten multilayers for soft x-rays mirrors


  • Pas de résumé disponible.

Consulter en bibliothèque

La version de soutenance existe sous forme papier

Informations

  • Détails : 1 vol. (171 P.)
  • Annexes : 60 REF

Où se trouve cette thèse\u00a0?

  • Bibliothèque : Université de Paris - BU des Grands Moulins (Paris). Direction générale déléguée aux bibliothhèques et musées. Bibliothèque universitaire des Grands Moulins.
  • Accessible pour le PEB
  • Cote : TS1987

Cette version existe également sous forme de microfiche :

  • Bibliothèque : Université de Lille. Service commun de la documentation. Bibliothèque universitaire de Sciences Humaines et Sociales.
  • Non disponible pour le PEB
  • Cote : 1987PA077094
  • Bibliothèque : Université Paris-Est Créteil Val de Marne. Service commun de la documentation. Section multidisciplinaire.
  • PEB soumis à condition
Voir dans le Sudoc, catalogue collectif des bibliothèques de l'enseignement supérieur et de la recherche.