Determination de l'emissivite spectrale directionnelle des materiaux opaques

Determination of the spectral directional emissivity of non-transmitting materials

• Auteur / Autrice : DOMINIQUE RENOUX
• Direction : JEAN-JACQUES BERNARD
• Type : Thèse de doctorat
• Discipline(s) : Physique
• Date : Soutenance en 1987
• Etablissement(s) : Paris 6

Résumé

L'emissivite spectrale directionnelle des materiaux opaques peut etre deduite des mesures de reflectivites spectrales (directionnelle-hemispheriques; hemispherique-directionnelles avec un eclairement isotrope de l'echantillon a etudier). La premiere partie traite de l'application des spheres d'integration a la mesure des reflectivites. On decrit et analyse les methodes classiques de mesures qui sont couramment employees dans le domaine spectral uv-visible-proche infrarouge; on realise ensuite une etude theorique et experimentale d'une methode placant l'echantillon au centre d'une sphere d'integration pour l'infrarouge. La seconde partie est l'etude et l'automatisation d'un banc de mesure base sur un principe original derive du montage de coblentz. La collection du flux reflechi par l'echantillon est assuree par un ensemble de quatre miroirs spheriques qui couvrent le demi-espace au dessus de celui-ci. Le domaine de mesure de l'emissivite spectrale directionnelle est le suivant: domaine de longueurs d'onde: de 0. 7 a 10 micrometres; domaine de temperature: de 293 k a 500 k; incidences d'emission: 12#o, 24#o, 36#o, 48#o, 60#o. L'etude des erreurs systematiques et la comparaison des resultats obtenus avec d'autres laboratoires (utilisant des principes differents) ont permis de valider le principe et la realisation d'un tel montage