Détermination non destructive des paramètres de transport (N, "mu") par réflectivité infrarouge : application aux échantillons III-V massifs (GaSb) et aux couches minces épitaxiées

par Stephan Schirar

Thèse de doctorat en Sciences

Sous la direction de Claude Llinares.

Soutenue en 1987

à Montpellier 2 .


  • Résumé

    Les coefficients de reflexion d'echantillons massifs de gasb et de couches epitaxiees gasb sur substrats conducteurs et isolants ont ete mesures dans le domaine infrarouge (10 a 600 cm**(-1)). L'exploitation des spectres permet de determiner les densites de porteurs et leurs mobilites. Des comparaisons avec les mesures d'effet hall, lorsque cela a ete possible, ont ete effectuees. Cette methode optique a ete appliquee aux couches de composes ternaires ga::(1)-::(x)a1::(x)sb et ga::(1-x)in::(x)sb

  • Titre traduit

    Non destructive determination of transport parameters (free cariers density and mobility) of bulk and epitaxial iii-v semi-insulating compounds by ir reflectivity


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  • Détails : [1] f., [4], 88 p
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