Thèse de doctorat en Électronique, traitement du signal, test
Sous la direction de Pierre Csillag.
Soutenue en 1987
à Toulouse, INPT .
Les methodes d'analyse de signature des signaux de microprocesseurs en test aleatoire permettent de detecter les pannes internes sous une contrainte spatiale. L'analyse est effectuee a la sortie sous la forme d'autocorrelation, d'etude spectrale, de distances cepstrales
Study about the pertinence of parametric signal modelisation for the testing of microprocessors
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