Étude de la pertinence de modélisation paramétrique de signaux pour le test aléatoire des microprocesseurs

par Wei-Ming Ye

Thèse de doctorat en Électronique, traitement du signal, test

Sous la direction de Pierre Csillag.

Soutenue en 1987

à Toulouse, INPT .


  • Résumé

    Les methodes d'analyse de signature des signaux de microprocesseurs en test aleatoire permettent de detecter les pannes internes sous une contrainte spatiale. L'analyse est effectuee a la sortie sous la forme d'autocorrelation, d'etude spectrale, de distances cepstrales

  • Titre traduit

    Study about the pertinence of parametric signal modelisation for the testing of microprocessors


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Informations

  • Détails : 1 vol. (154 p.)
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p. 139-150

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  • Bibliothèque : École nationale supérieure d'électrotechnique, d'électronique, d'informatique, d'hydraulique et des télécommunications. Bibliothèque.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : 87INPT042H/1

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  • Non disponible pour le PEB
  • Cote : 1987INPT004H
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