Étude de la pertinence de modélisation paramétrique de signaux pour le test aléatoire des microprocesseurs

par Wei-Ming Ye

Thèse de doctorat en Électronique, traitement du signal, test

Sous la direction de Pierre Csillag.

Soutenue en 1987

à Toulouse, INPT .

mots clés

• Analyse signature
• Microprocesseurs
• Probabilités
• Décompositions orthogonales

Résumé

Les methodes d'analyse de signature des signaux de microprocesseurs en test aleatoire permettent de detecter les pannes internes sous une contrainte spatiale. L'analyse est effectuee a la sortie sous la forme d'autocorrelation, d'etude spectrale, de distances cepstrales

Titre traduit

Study about the pertinence of parametric signal modelisation for the testing of microprocessors

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