Techniques de caractérisation sous vide des couches minces optiques : application à la réalisation de filtres pour les démultiplexeurs des télécommunications optiques

par Bernard Schmitt

Thèse de doctorat en Physique

Sous la direction de Paul Bousquet.

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  • Résumé

    Developpement d'une technique de determination de l'indice de refraction et de l'epaisseur au cours du depot des couches. Les resultats de ces mesures classiques effectuees a l'air au moyen d'un spectrophotometre de precision. Application au controle precis de la fabrication de filtres multidielectriques


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Informations

  • Détails : 180 p.
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p.175-179

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