Mesure de l'anisotropie des couches produites par évaporation-condensation : corrélation entre la microstructure et les conditions de dépôt

par You-lin Hu

Thèse de doctorat en Physique. Composants, signaux et systèmes. Composants électroniques et optiques

Sous la direction de Paul Bousquet.

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  • Résumé

    Mise en evidence d'une anisotropie marquee des couches obtenues par evaporation-condensation, interpretee par la microstructure en colonnes. Etude de la variation des indices de refraction principaux en fonction des conditions de depot et correlation avec la direction de croissance des colonnes. Differences de microstructure entre les couches isolees et les couches inserees dans un empilement


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Informations

  • Détails : 239 p.
  • Notes : Publication autorisée par le jury
  • Annexes : Bibliogr. p.205-208

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  • Bibliothèque : Université d'Aix-Marseille (Marseille. Saint-Jérôme). Service commun de la documentation. Bibliothèque de sciences.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : T 1244
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