Morphologie des distributions de défauts dans GaAs-SI par imagerie infra-rouge numérique

par Fugui Zhang

Thèse de doctorat en Composants, signaux et systèmes

Sous la direction de Jean-Pierre Fillard.

Soutenue le 04-07-2018

à Montpellier 2 .


  • Résumé

    Analyse morphologique des defauts dans des couches semi-isolantes de gaas par utilisation d'un logiciel de traitement d'images

  • Titre traduit

    Defects distributions morphology in semi-insulating asga by infrared digital imagery


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Informations

  • Détails : [2] f., 178 p
  • Annexes : Notes bibliogr. - Extr. en partie de : "Defect recognition and image processing in III-V compounds", 1985, 35-39. - SI = Semi-Isolant

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