Calcul des circuits électroniques VLSI avec optimisation des tolérances

par Tadeusz Gryba

Thèse de doctorat en Sciences physiques

Sous la direction de Pierre Borne.

Soutenue en 1985

à Lille 1 .


  • Résumé

    Étude d'une modélisation et d'une simulation d'un procédé de fabrication et d'un comportement électrique des circuits intégrés. Le critère fiabilité-économique minimise le coût de production avec une fiabilité supérieure à une valeur de satisfaction. Les valeurs optimales des paramètres des circuits à très haute intégration sont obtenues par une décomposition en sous-problèmes basée sur un partitionnement du circuit en sous-circuits à partir du graphe de corrélation et du graphe électrique. La méthode de programmation stochastique permet de calculer les valeurs nominales et les tolérances optimales des paramètres du sous-circuit. Les paramètres optimaux du circuit VLSI sont calculés à partir de l'optimisation des sous circuits successifs.

  • Titre traduit

    Calculation of VLSI electronic circuits with tolerance optimization


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Informations

  • Détails : 1 vol. (219 p.)
  • Annexes : Bibliogr. p. 185-219. 371 réf.

Où se trouve cette thèse ?

  • Bibliothèque : Université des sciences et technologies de Lille (Villeneuve d'Ascq, Nord). Service commun de la documentation.
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : 50376-1985-163
  • Bibliothèque : Centre Technique du Livre de l'Enseignement supérieur (Marne-la-Vallée, Seine-et-Marne).
  • Disponible pour le PEB
  • Cote : PAR SUD Tg LIlle 1985 44
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