Mohamed-Aziz Doukkali
IdRefMots clés
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Circuits intégrés
Autotest intégré
Circuits intégrés monolithiques hyperfréquence
Prédiction de la dégradation
Stress DC, Stress RF
Dégradation des paramètres DC et RF
Mécanismes de dégradation HCI, BTI, MMD et RVBE
TranEstimation de la durée de viesistors MOS et bipolaires
Conception en tenant compte de la fiabilité
Fiabilité
Matériaux -- Détérioration
MOS (électronique)
Transistors bipolaires
Durée de vie (ingénierie)
Transistors
Système de transmission sans fil
Antennes ULB
Méthodes numériques
Système de Rectenna
Convertisseur RF/DC