François Bertin
IdRefMots clés
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EN
Microélectronique
Microscopie à force atomique
Semiconducteurs -- Dopage
Travail de sortie
Caractérisation
Science des matériaux
Microscopie électronique en transmission
SiGe
Silicium
Microscopie en champ proche
Microscopie à force atomique,
KFM
CdTe/CdS hétérojonction
Fonctionnalisation de surface
Microscope à force atomique
Nanotube de carbone
Fonctionnalisation des surfaces (chimie)
Nanotubes
Mesure
Polissage Mécano-chimique