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Laurent Brunet

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Caractérisation électrique Etats d’interface Fdsoi Fiabilité High-k Microélectronique Silicium -- Substrats Transistors MOSFET

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Caractérisation électrique Etats d’interface Fdsoi Fiabilité High-k Microélectronique Silicium -- Substrats Transistors MOSFET

Laurent Brunet a rédigé la thèse suivante :

Caractérisation électrique et fiabilité des transistors intégrant des dielectriques High-k et des grilles métalliques pour les technologies FDSOI sub-32nm

par Laurent Brunet sous la direction de Alain Bravaix et de David Roy . - Aix-Marseille

Micro et Nanoélectronique

Soutenue le 08-03-2012

Thèse soutenue

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