Christian Moreau
IdRefMots clés
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Fiabilité
Nitrure de gallium
Caractérisations électriques
Essais accélérés (technologie)
HEMT
Transistors à effet de champ à dopage modulé
Carbure de silicium
Ions -- Implantation
Polymères
Conduction ionique
HEMT AlGaN/GaN
Amplificateur de puissance RF
Analyse de défaillance
Fonctionnement RADAR
Analyse micro-structurale
Radiofréquences
DSM
FPGA
HCI
NBTI