Jacques Bonnafé
IdRefMots clés
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Ondes
Microscopie tunnel à balayage
Télécommunications optiques
Dispositifs optoélectroniques
Capteurs optiques
Fibres optiques
Composés semiconducteurs
Silicium
Simulation, Méthodes de
Microscopes électroniques à transmission
Microélectronique
Effet tunnel
Sondes atomiques
Semiconducteurs -- Propriétés optiques
Semiconducteurs
Réflectance