Jean-Luc Autran
IdRefMots clés
FR |
EN
Transistors MOSFET
Rayonnements ionisants
Circuits électroniques
Microélectronique
Fiabilité
Monte-Carlo, Méthode de
MOS complémentaires
Modélisation
Effets des radiations
Semiconducteurs
Radiation
Électronique
Test
Cmos
Circuits intégrés
Nanoélectronique
Technologie silicium sur isolant
Silicium
Simulation
Nanosatellites