,application autonome  3D integration  Abb  Algorithme de routage  Alimentations  Amplificateur operationnel  Application spatiale  Asic  Atpg  Auto-controlabilite  Autocontrole  Automatic test  Automatic test generation  Automation  Automatisation  Autostabilisation  Autotest  Autotest intégré  Avariabilité du procédé  BTI.HCI. capteur de vieillissement  Bibliotheque cellules  Bist  Bti  Built in self repair  Built in self test  CMOS  CMOS Technologie en ruptures  Capteur courant  Capteurs d'images CMOS  Cartes à mémoire  Cd  Checkpoint  Chemin de donnees  Chemin de données  Circuit analogique  Circuit auto-controlable  Circuit electronique  Circuit integre  Circuit integre cmos  Circuit logique  Circuit numerique  Circuits  Circuits auto-contrôlables  Circuits digitaux  Circuits imprimés -- Conception et construction -- Informatique  Circuits intégrés à la demande  Circuits surs  Circuits électroniques  Claquage soft  Codes correcteurs  Complementary mos technology  Computer aided design  Conception assistee  Conception assistée par ordinateur  Conception circuit  Conception pour la fiabilité  Conception pour la variabilité  Consommation de la puissance  Controle retenue  Controleur  Controller  Correction d’erreur  Cosmic irradiation  Data-paths  Description groupe e concurrente  Detection defaut  Detection erreur  Diagnostic panne  Durée de vie  Décontamination  Déduction d’erreur  Effet rayonnement  Effets singuliers  Effets transitoires  Electronic circuit  Electronique  Erreur transistoire  Error correction  Error detection  Essai automatique  Etude theorique  Faible consommation  Fault tolerant system  Fault-tolerance  Fdsoi  Fiabilite  Fiabilité  Generation automatique test  Gpu  Growth of error  HCI  Hautes densités de défauts  Hci  Injection de fautes  Integrated circuit  Intégration 3D  Intégration des systèmes  Ionizing radiation  Irradiation cosmique  Justification  Logic circuit  MOS  MPSoC  Matériaux -- Détérioration  Memoire semiconducteur  Memory testing  Methode essai  Methode mesure  Methodologie  Methodology  Microstructure  Microélectronique  Moniteur in-Situ  Moniteurs in-Situ  Multi-Coeurs  Mémoires  NBTI  Nanobiologie  Nanotechnologie  Nanoélectronique  Network-on-chip  NoC  Ordonnancement  Parties operatives  Prediction parite  Processeur multicoeur  Propagation erreur  Protection parité  Protection sélective  Radiation effect  Rayonnement ionisant  Reconfiguration  Recouvrement par points de contrôle  Reliability  Rendement  Rendement de fabrication  Restauration d'états  Rollback recovery  Routage  Routing  Régulation de la tension d'alimentation  Réparation des mémoires  Réseau sur puce  Réseaux sur puce  Sauvegarde de contexte  Sciences appliquees  Sciences et techniques  Self control  Self-checking  Semiconductor storage  Seu  Simulation  Simulation, Méthodes de  Soft erreurs  Space application  Synthesis tool  Systeme tolerant les pannes  Systèmes complexes  Systèmes microélectromécaniques  Systèmes sur puce  Tddb  Technologie mos complementaire  Test concurrent  Test des mémoires  Test method  Test par courant  Testabilite  Testability  Theoretical study  Tolérance aux fautes  Tolérance aux fautes  Téchnologie CMOS  Variabilité  Vie artificielle  Vieillissement  Événements singuliers  Événements singuliers transitoire  Événements singuliers upsets  

Michael Nicolaïdis a dirigé les 28 thèses suivantes :

Nanoélectronique et nanotechnologie
Soutenue le 19-06-2014
Thèse soutenue

Sciences et technologie industrielles
Soutenue le 18-10-2012
Thèse soutenue
Micro et nano électronique
Soutenue en 2010
Thèse soutenue

Microelectron.
Soutenue en 1992
Thèse soutenue


Michael Nicolaïdis a été président de jury des 2 thèses suivantes :


Michael Nicolaïdis a été membre de jury de la thèse suivante :